南京工程学院
微纳米MOS器件可靠性与失效机理
责任者：
刘红侠
郝跃
出版信息：
科学出版社 / 2008
ISBN：
978-7-03-020586-5
预约
委托
评论
书架
馆藏信息
TN4/82
总馆 — 基本书库闭架区
馆藏(1) / 可借(0)
TN4/82
总馆 — 科技图书借阅Ⅰ室
馆藏(2) / 可借(2)
首页
我的图书馆
