南京工程学院

MEMS可靠性

责任者： 谢伊  黄钦文  席尔瓦  HARTZELL ALLYSON L  SHEA HERBERT R  恩云飞  贾玉斌  哈策尔  SILVA MARK G 

  • 出版信息：电子工业出版社 / 2012
  • ISBN：978-7-121-18805-3
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TN4/111

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