南京工程学院

基于失效模式的电子元器件质量控制

TN6/141李京苑主编/首都经济贸易大学出版社/ 2019

• 馆藏(3) / 可借(3)

几何量常用测量方法

TB92/9李京苑, 陈金存, 刘大亮编著/中国宇航出版社/ 2018

• 馆藏(2) / 可借(2)

统计过程控制与评价:CPK、SPC和PPM技术

TN6/18贾新章，李京苑编著/电子工业出版社/ 2004

• 馆藏(5) / 可借(5)